并行测试法
并行测试是在老化过程中进行器件测试最快的方法，这是因为有多条信号线连在器件的输入输出端，使数据传输量达到，i/o线的输入端由系统测试部分控制。并行测试有三种基本方式：各器件单引脚信号返回和多引脚信号返回。
·多引脚信号返回 该方法和单引脚信号返回类似，但是从每个器件返回的信号更多。由于每个器件有更多信号返回线，所以这种方法要用到多个返回监测线路。而又因为必须要有大量返回线路为该方法专用，因此会使系统总体成本急剧增加。没有内部自检而且又非常复杂的器件可能就需要用这种方法。
老化测试系统可归为两大类：逻辑器件和存储器。逻辑器件测试系统又可分为两类：并行和串行；同样，存储器测试系统也可分为两类：非易失性和易失性。
存储器老化
存储器老化和测试的线路实现起来相对简单一些，所有器件通过统一方式写入，然后单独选中每个器件，将其存入的数据读出并与原来的值对照。由于具有控制和数据采集软件以及故障数据评估报告算法，所以存储器老化测试对生产商非常有用。
大多数存储器件支持多个选通引脚，因而老化测试系统采用簇方式读回数据。某些系统具有很宽的数据总线，每一簇可同时读取多个器件，再由电脑主机或类似的机器对器件进行划分。增加老化板上的并行信号数量可提高速度，减少同一条并行信号线所连器件数，并且降低板子和器件的负载特性。
19世纪30年代，世界上出现了第1台高温老化房，它的诞生为高温老化房的发展奠定了历史性的基础，上世纪五十年代未期，日本高温老化箱制造厂商已发展到约20家
近年来，出现了各类不同样式的高温老化箱出现，他们都是台高温老化试验箱的扩展与创新版。
无论哪种类型的试验箱，都带有控制系统，高温老化箱也不例外，它无论在结构上还是控制系统上，都不断的在向精简化，智能化靠拢，
七十年代初，我国的高温老化箱的机构不断壮大，其研发团队也在不断扩大，无论在设计上还是制造上都有了一定的成果。
生产的高温老化箱品种已达到几十种。除了一般用的湿热箱、日照箱和盐雾箱等摸拟单项环境条件的标准产品外，综合气候老化试验箱以及温度、湿度、低气压和振动四因素环境试验箱等
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